便攜式電阻率測試儀庫存 庫號：M220819 便攜式電阻率測試儀庫存 庫號：M220819 便攜式電阻率測試儀是用來測量硅晶塊、晶片的電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導體材料電阻率的及標準測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計。它主要由電器測量部份（主機）及四探針頭組成，需要時可加配測試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及電阻率。樣品測試電流由高精度的恒流源提供，可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分選材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω·cm標準樣片的測量誤差不過±3% 主要指標 （1）測量范圍： 可測量電阻率：0.01～199.9Ω·cm 可測方塊電阻： 0.1～1999Ω/□ 當被測材料電阻率≥200Ω·cm數(shù)字表顯示0.00 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 1mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% （3）直流數(shù)字電壓表 測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μV 準確度：0.2%（±2個字） （4）供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5）使用環(huán)境： 相對濕度≤80% （6）重量、體積 重量：2.2Kg 體積：寬210×高100×深240（mm） 便攜式電阻率測試儀是用來測量硅晶塊、晶片的電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導體材料電阻率的及標準測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計。它主要由電器測量部份（主機）及四探針頭組成，需要時可加配測試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及電阻率。樣品測試電流由高精度的恒流源提供，可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分選材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω·cm標準樣片的測量誤差不過±3% 主要指標 （1）測量范圍： 可測量電阻率：0.01～199.9Ω·cm 可測方塊電阻： 0.1～1999Ω/□ 當被測材料電阻率≥200Ω·cm數(shù)字表顯示0.00 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 1mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% （3）直流數(shù)字電壓表 測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μV 準確度：0.2%（±2個字） （4）供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5）使用環(huán)境： 相對濕度≤80% （6）重量、體積 重量：2.2Kg 體積：寬210×高100×深240（mm） |
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