光學(xué)膜厚控制儀庫存 庫號：M12664 光學(xué)膜厚控制儀庫存 庫號：M12664
真空鍍膜，膜厚控制儀 本儀器是相位鎖定放大器，用于光學(xué)鍍膜膜層厚度測量和控制。它由主信號通道，參考信號通道和四階低Q濾波組成，有很強(qiáng)的諧波抑制能力和動態(tài)儲備，能測量深埋于噪聲或直流漂移中微弱的信號幅度和相位。 采用進(jìn)品高元件制作和DAAS是數(shù)字頻譜分析系統(tǒng)測試，確保儀器具有的質(zhì)量和的性能。 高穩(wěn)定性。操作簡便，實(shí)用性強(qiáng) 參數(shù)：
GM-X03 主信號通道：電壓單端輸入 滿程靈敏度：0.5mV~500mV 頻率范圍：1KHz,±5% 鎖相噪聲：≦4nV 線性誤差：≦1% 零點(diǎn)漂移：0.2%（小時(shí)） 參考信號通道：電壓單端輸入 輸入幅度：20mV~700mV 頻率范圍：1KHz,±5% 相位鎖定范圍：≧320° 電源電壓：220VAC/50Hz 外形尺寸：寬482x高89x深322（mm）/標(biāo)準(zhǔn)2U面板 凈重：7.5Kg 真空鍍膜，膜厚控制儀 本儀器是相位鎖定放大器，用于光學(xué)鍍膜膜層厚度測量和控制。它由主信號通道，參考信號通道和四階低Q濾波組成，有很強(qiáng)的諧波抑制能力和動態(tài)儲備，能測量深埋于噪聲或直流漂移中微弱的信號幅度和相位。 采用進(jìn)品高元件制作和DAAS是數(shù)字頻譜分析系統(tǒng)測試，確保儀器具有的質(zhì)量和的性能。 高穩(wěn)定性。操作簡便，實(shí)用性強(qiáng) 參數(shù)：
GM-X03 主信號通道：電壓單端輸入 滿程靈敏度：0.5mV~500mV 頻率范圍：1KHz,±5% 鎖相噪聲：≦4nV 線性誤差：≦1% 零點(diǎn)漂移：0.2%（小時(shí)） 參考信號通道：電壓單端輸入 輸入幅度：20mV~700mV 頻率范圍：1KHz,±5% 相位鎖定范圍：≧320° 電源電壓：220VAC/50Hz 外形尺寸：寬482x高89x深322（mm）/標(biāo)準(zhǔn)2U面板 凈重：7.5Kg
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