兩探針電阻率測試儀 庫存 庫號:D291339 兩探針電阻率測試儀 庫存 庫號:D291339
參照標(biāo)準(zhǔn): GB/T 1551-2009 硅單晶電阻率測定方法-方法2直流兩探針法; SEMI MF 397-1106<<硅棒電阻率測定兩探針法>> 參數(shù) 資料 1.電阻率:10^-7~2×10^7Ω-cm 2.電 阻:10^-7~2×10^7Ω 3.電導(dǎo)率:5×10^-7~10^7s/cm 4.分辨率: 0.1μΩ 測量誤差±(0.05%讀數(shù)±5字) 5.測量電壓量程: 2mV 20mV 200mV 2V 測量精度±(0.1%讀數(shù)) 6.分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV 7.電流輸出:直流電流 0~1000mA 連續(xù)可調(diào), 量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 誤差:±0.2%讀數(shù)±2字 8.顯示方式:液晶顯示:電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、單位自動換算、橫截面、高度、電流、電壓等. 9.溫度要求:23℃±1℃ 10.電源:220±10% 50HZ/60HZ 11. 測量平臺參數(shù)如下: 1).可測硅芯、檢驗棒尺寸:直徑4~22㎜ (其他規(guī)格可定制) 2).探針頭探針與試樣接觸位置重復(fù),無橫向移動。 3).兩探針測試探針。探頭間距1.59mm(其他規(guī)格可定制);探針機(jī)械游率:±0.3%。 4).探針直徑0.8㎜;探針壓力總6-12N,探針材料:鎢針, 5).探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐 12.標(biāo)配外選購項:a.pc軟件1套;b.標(biāo)準(zhǔn)電阻1件;c.電腦和
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