介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀 庫(kù)存：M129407 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀 庫(kù)存：M129407
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀STD-C，可直接顯示介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）.檢測(cè)固體材料。 STD-C介電常數(shù)測(cè)試儀 STD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由測(cè)試裝置（夾具）、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入STD-C的軟件模塊)、及電感器組成。依據(jù)國(guó)標(biāo)GB/T 5594.4-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第4部分：介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測(cè)試方法、GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用STD-C數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。 STD-C介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)組成： 主機(jī)：高頻Q表 功能名稱： STD-C 信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào) 100KHZ-160MHz 信號(hào)源頻率覆蓋比 16000:1 信號(hào)源頻率精度 6位有效數(shù) 3×10-5 ±1個(gè)字 采樣精度 12BIT 高精度的AD采樣，保證了Q值的穩(wěn)定性，以及低介質(zhì)損耗材料測(cè)試時(shí)候的穩(wěn)定性 Q測(cè)量范圍 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 Q分辨率 4位有效數(shù),分辨率0.1 Q測(cè)量工作誤差 <5% 電感測(cè)量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH 1nH-140mH分辨率0.1nH 電感測(cè)量誤差 <3% 調(diào)諧電容 主電容17-240pF (一體鍍銀成型,精度高) 電容自動(dòng)搜索 是(帶步進(jìn)馬達(dá)) 電容直接測(cè)量范圍 1pF～25nF 調(diào)諧電容誤差 分辨率 ±1 pF或<1% 0.1pF 諧振點(diǎn)搜索 自動(dòng)掃描 Q合格預(yù)置范圍 5-1000聲光提示 Q量程切換 自動(dòng)/手動(dòng) LCD顯示參數(shù) F，L，C，Q，Lt，Ct, tn, Σr 自身殘余電感和測(cè)試引線電感的 自動(dòng)扣除功能() 有 大電容值直接測(cè)量顯示功能() 測(cè)量值可達(dá)25nF 介質(zhì)損耗系數(shù) 精度 萬(wàn)分之一 介電常數(shù) 精度 千分之一 材料測(cè)試厚度 0.1mm-10mm 介電常數(shù) LCD直接顯示 介質(zhì)損耗系數(shù) LCD直接顯示 介電常數(shù)測(cè)試頻率范圍 100KHz-100MHz 介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置： 樣品尺寸：固體：材料測(cè)量直徑 Φ38mm ；厚度可調(diào) <15mm ； (極片可以定制) 選配液體杯，可做液體材料的檢測(cè)。
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