光學(xué)膜層厚度測量控制儀 現(xiàn)貨 光學(xué)膜層厚度測量控制儀 現(xiàn)貨 CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率,因而對信號諧波和直流漂移具有*的抑制能力。 主要性能指標(biāo)及指標(biāo)
主信號通道: 信號輸入方式:單端交流輸入 輸入量程:0.5mV-500mV 信號頻率范圍:1KHz±5% 本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端) 性誤差: ≤0.1% 零點(diǎn)時(shí)源: ≤0.2%/h 參考信號通道:
信號輸入方式:單端交流輸入 輸入幅度:20-700mV 頻率范圍:≥320。
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率,因而對信號諧波和直流漂移具有*的抑制能力。 主要性能指標(biāo)及指標(biāo)
主信號通道: 信號輸入方式:單端交流輸入 輸入量程:0.5mV-500mV 信號頻率范圍:1KHz±5% 本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端) 性誤差: ≤0.1% 零點(diǎn)時(shí)源: ≤0.2%/h 參考信號通道:
信號輸入方式:單端交流輸入 輸入幅度:20-700mV 頻率范圍:≥320。
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率,因而對信號諧波和直流漂移具有*的抑制能力。 主要性能指標(biāo)及指標(biāo)
主信號通道: 信號輸入方式:單端交流輸入 輸入量程:0.5mV-500mV 信號頻率范圍:1KHz±5% 本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端) 性誤差: ≤0.1% 零點(diǎn)時(shí)源: ≤0.2%/h 參考信號通道:
信號輸入方式:單端交流輸入 輸入幅度:20-700mV 頻率范圍:≥320。
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率,因而對信號諧波和直流漂移具有*的抑制能力。 主要性能指標(biāo)及指標(biāo)
主信號通道: 信號輸入方式:單端交流輸入 輸入量程:0.5mV-500mV 信號頻率范圍:1KHz±5% 本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端) 性誤差: ≤0.1% 零點(diǎn)時(shí)源: ≤0.2%/h 參考信號通道:
信號輸入方式:單端交流輸入 輸入幅度:20-700mV 頻率范圍:≥320。
|