(LQS)兩探針電阻率測試儀探針頭 型號:KD09-KDT-9/10庫號:M406300 (LQS)兩探針電阻率測試儀探針頭 型號:KD09-KDT-9/10庫號:M406300 (LQS)兩探針電阻率測試儀探針頭 型號:KD09-KDT-9/10庫號:M406300 兩探針電阻率測試儀KDY-2 探針頭 型號:KD09-KDT-9/10 庫號:M406300 查看hh midwest-group midwest-group midwest-group midwest-group KDT-9 探針間距1.59mm,壓力4-10N;
以上兩種規(guī)格探針頭用于測量截面面積均勻,截面形狀為方形、矩形或圓形,樣品的長度與截面zui大尺寸之比不應小于3:1,循環(huán)實驗測試樣品的zui大直徑為3.75cm,電阻率在0.0009-3000之間的單晶棒電阻率。
KDT-10 探針間距10mm,壓力6-10N;
此規(guī)格探針頭用于測量鍺錠的電阻率。 兩探針電阻率測試儀KDY-2 探針頭 型號:KD09-KDT-9/10 庫號:M406300 查看hh midwest-group midwest-group midwest-group midwest-group KDT-9 探針間距1.59mm,壓力4-10N;
以上兩種規(guī)格探針頭用于測量截面面積均勻,截面形狀為方形、矩形或圓形,樣品的長度與截面zui大尺寸之比不應小于3:1,循環(huán)實驗測試樣品的zui大直徑為3.75cm,電阻率在0.0009-3000之間的單晶棒電阻率。
KDT-10 探針間距10mm,壓力6-10N;
此規(guī)格探針頭用于測量鍺錠的電阻率。 |