輻射測量儀型號:FJ1200輻射測量儀型號:FJ1200 ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) ◆輻射類型:X,γ ◆探測器:Φ50 × 40 mm,NaI(Tl)晶體 ◆測量范圍:0.01 ~ 200µSv/h ◆測量精度:± 10%(100 µSv/h,137Cs) ◆能量響應: 40 keV ~ 1.3 MeV ◆響應時間:< 3 s ◆工作時間:4節(jié)AA1.5V電池 ◆機械尺寸:主機:寬141 mm × 高111 mm × 厚38 mm ◆探頭:Φ 60 × 254 mm(不含手柄) |